lauantai 7. kesäkuuta 2014

Fysiikka 8: luku 3.3 Mikroskoopit aineen rakenteen tutkimuksessa



Optisella mikroskoopilla voidaan erottaa ainoastaan yksityiskohtia, jotka ovat valon aallonpituutta suurempia. Sen sijaan elektronimikroskoopin erotuskyky on  merkittävästi parempi, koska de Broglien aallonpituus on huomattavasti pienempi kuin näkyvän valon aallonpituus. Elektronimikroskoopin erotuskyvyn määräävät käytettävä kiihdytysjännite ja elektronien aallonpituus. Elektronimikroskooppia käytetään mm. lääketieteessä ja nanotekniikan tutkimuksissa.

Atomivoimamikroskoopissa näytteen pintaa tutkitaan värähtelijään kiinnitetyllä terävällä neulalla, jonka kärki on vain muutaman nanometrin levyinen.  Atomivoimamikroskoopin erotuskyky riippuu neulan koosta. Atomivoimamikroskoopilla saadaan parhaimmillaan näkyviin jopa yksittäiset atomit.

Pyyhkäisyelektronimikroskoopissa elektronisuihku pyyhkäisee näytteen pintaa piste pisteeltä. Kun elektronisuihku osuu näytteeseen, osa elektroneista siroaa, osa absorboituu näytteeseen ja osa menee läpi, jos näyte on tarpeeksi ohut. Pyyhkäisyelektronimikroskooppi muodostaa kuvan kohteen pintarakenteesta elektronien ja kohteen pintakerroksen atomien välisten vuorovaikutusten perusteella.

Ei kommentteja:

Lähetä kommentti