Röntgensäteilyä
käytetään teollisuudessa esim valuvikojen ja hitsaussaumojen tutkimisessa. Jos
tutkittavaa näytettä säteilytetään riittävän suurienergiaisilla hiukkasilla
kuten protoneilla, saadaan kohtioaineen ominaissäteilyn piikit näkyviin
röntgenspektriin. Tätä alkuaineen tunnistamisen menetelmää kutsutaan
PIXE-menetelmäksi eli hiukkasherätteiseksi röntgenemissioksi. Tällä
menetelmällä voidaan tutkia esim taulujen aitoutta.
Röntgenlaitteella
voidaan tutkia myös aineen kiderakennetta. Kiteisen aineen atomit ovat
asettuneet säännölliseen järjestykseen, kidetasoiksi. Röntgensäteilyn
aallonpituus on samaa suuruusluokkaa kuin kidetasojen etäisyydet toisistaan.
Siksi kiteisen aineen rakennetta voidaan tutkia röntgendiffraktiolla. Tällä
menetelmällä saadaan selville aineen kiderakenne ja kidehilassa olevat virheet.
Braggin
lain mukaan röntgensäteily heijastuu kiteen tasoista lain
2 d
sin θ = n λ
määräämiin
suuntiin θ. Missä n = 1,2 ,... on heijastuksen (diffraktion) kertaluku ja
kidetasojen välimatka on d.
Ei kommentteja:
Lähetä kommentti